时间：2025-04-19 来源：FPGA_UCY 关于我们 0
本发明专利技术公开了一种基于FPGA的自动检测测试系统，该系统是一种基于FPGA、 ACE、(内存卡)、T800测试机台、高精度数字示波器的一套集成测试平台，可以用于FPGA芯片系统数据参数测试及板级芯片功能检测；采用高精度的数字示波器可以检测芯片的高速信号IO波形，采用 ACE可以在 flash中存储多个配置信息在ATE测试机台中用以动态测试FPGA芯片的多项数据参数和板级静态FPGA专用功能检测，可一次检测多个FPGA芯片。片。片。
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【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的自动检测测试系统
[0001]本专利技术涉及集成电路领域，具体涉及一种基于FPGA的自动检测测试系统。
技术介绍
[0002]FPGA(Field Gate Array）是现场可编程逻辑门阵列器件，属于专用集成电路中的一种半定制电路，是可编程的逻辑器件。FPGA的基本结构包括可编程输入输出单元、可配置逻辑块、数字时钟管理模块、嵌入式块RAM、布线资源、内嵌专用硬核、底层内嵌功能单元等。由于FPGA的特点是规模大、内部资源丰富、没有办法通过一种检测方案满足所有故障检测的要求。在集成电路研制、生成、应用等各个阶段都需要进行反复多次的检测、测试来保证产品质量和可靠性。
[0003]现有技术中，基于RAM结构的FPGA都需要外部配置芯片，一般采用一个PROM存储一个配置程序，在检测领域和板级功能检测领域没有办法实现对FPGA多个功能测试的全面覆盖和检测，在ATE测试领域，一般测试只能一次性测试一个芯片；采用flash、SRAM等只能存储一个配置信息，测试一项测试参数，无法覆盖多项参数，一次也只能检测一只芯片，效率十分低下。
[0004]因此，实现一种能够覆盖多项参数、一次能够检测多个集成电路芯片的测试系统是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术克服现有技术的不足，针对上诉缺点本专利技术做出了以下的改进和优化。
[0006]本专利技术的目的通过以下的技术方案实现：提供了一种基于FPGA的自动检测测试系统，包括T800自动测试设备、FPGA模块、 ACE系统控制模块、MGT高速信号检测模块、JTAG边界扫描测试模块和电源；所述JTAG边界扫描测试模块与FPGA模块互相连接，所述T800自动测试设备与FPGA模块互相连接，所述MGT高速信号检测模块与FPGA模块连接，所述 ACE系统控制模块与FPGA模块互相连接，所述电源与T800自动测试设备和连接，用于给待测芯片提供电源；所述T800自动测试设备用于测试待测芯片；所述FPGA模块用于放置待测芯片，通过 ACE系统控制模块把数据配置到FPGA模块中，使FPGA按照设定的功能运行，再使用T800自动测试系统测试待测芯片的功能参数是否满足数据手册要求；所述 ACE系统控制模块用于控制基于FPGA的自动检测测试系统的运行；所述MGT高速信号检测模块用于检测高速信号；MGT高速信号检测模块包括高速串行信号收发器，主要用于收发信号。可检测FPGA的信号是否满足数据手册中参数的要求。
[0007]所述JTAG边界扫描测试模块用于对多个待测芯片进行检测测试。
[0008]优选的，所述T800自动测试设备包括接口电路，所述接口电路包括机台测试端接
口、T800测试设备与FPGA通道的IO连接接口和电源通道接口。
[0009]优选的，所述 ACE系统控制模块包括ACE芯片、外围电路和卡；所述ACE芯片分别与外围电路、卡连接，所述卡用于存储FPGA测试程序。
[0010]优选的，所述MGT高速信号检测模块包括FPGA专用集成IO芯片。
[0011]优选的，所述FPGA包括FPGA外围电路和FPGA芯片，所述FPGA芯片为
‑
。
[0012]优选的，所述电源包括板级电路和ATE测试机台供电电路。
[0013]本专利技术提供了一种基于FPGA的自动检测测试系统，其系统通过采用 ACE技术，可以在中存储多个配置信息在ATE测试机台中用以动态测试FPGA芯片的多项数据参数和板级静态FPGA专用功能检测，可一次检测多个FPGA芯片，大幅节省了开发工作；与传统的PROM相比，每比特成本也大大降低，通过添加上位机软件可以对ATE测试设备、高精度示波器、电子负载、等设备进行控制、通信、数据读取，保存。
附图说明
[0014]利用附图对本专利技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本专利技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
[0015]图1为本专利技术基于FPGA的自动检测测试系统框架图；图2为本专利技术T800自动测试设备的部分接口电路图；图3为本专利技术 ACE系统控制模块部分电路图；图4为本专利技术 ACE系统控制模块部分电路图；图5为本专利技术的FPGA专用集成IO芯片电路图；图6为本专利技术的SMA示波器部分波形检测电路图；图7为本专利技术的SMA示波器部分波形检测电路图；图8为本专利技术的SMA示波器部分波形检测电路图；图9为本专利技术的SMA示波器部分波形检测电路图；图10为本专利技术的SMA示波器测试电路图；图11为本专利技术的FPGA芯片外围电路图；图12为本专利技术的电源电路图；图13为本专利技术的JTAG边界扫描测试模块部分电路图；
具体实施方式
[0016]以下结合具体实施例对一种基于FPGA的自动检测测试系统作进一步的详细描述，这些实施例只用于比较和解释的目的，本专利技术不限定于这些实施例中。
[0017]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、
ꢀ“
左”、“右”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]在一实施例中，提供了一种基于FPGA的自动检测测试系统，如图1所示，一种基于FPGA的自动检测测试系统，包括T800自动测试设备、FPGA模块、 ACE系统控制模块、MGT高速信号检测模块、JTAG边界扫描测试模块和电源；通过设置PC上位机，可以对ATE测试设备、高精度示波器、电子负载、等设备进行控制、通信、数据读取，保存；在FPGA模块旁添加示波器和SMA模块用于读取输出信号的电压、电流、波形。
[0019]所述JTAG边界扫描测试模块与FPGA模块互相连接，所述T800自动测试设备与FPGA模块互相连接，所述MGT高速信号检测模块与FPGA模块连接，所述 ACE系统控制模块与FPGA模块互相连接，所述电源与T800自动测试设备和连接，用于给待测芯片提供电源；所述基于FPGA的自动检测测试系统利用 ACE系统控制模块通过控制卡，将其存储的数据配置到FPGA模块中，再通过T800自动测试设备测试FPGA模块，测试前需在PC端设备上编写测试程序；JTAG边界扫描测试模块与FPGA模块相连接，通过JTAG边界扫描测试模块扫描出FPGA；MGT高速信号检测模块和FPGA模块连接，通过示波器或者T800测试设备，抓取MGT串行高速信号；所述T800自动测试设备用于测试待测芯片。
[0
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的自动检测测试系统，其特征在于，包括T800自动测试设备、FPGA模块、 ACE系统控制模块、MGT高速信号检测模块、JTAG边界扫描测试模块和电源；所述JTAG边界扫描测试模块与FPGA模块互相连接，所述T800自动测试设备与FPGA模块互相连接，所述MGT高速信号检测模块与FPGA模块连接，所述 ACE系统控制模块与FPGA模块互相连接，所述电源与T800自动测试设备和连接，用于给待测芯片提供电源；所述T800自动测试设备用于测试待测芯片；所述FPGA模块用于放置待测芯片，通过 ACE系统控制模块把数据配置到FPGA模块中，使FPGA按照设定的功能运行，再使用T800自动测试系统测试待测芯片的功能参数是否满足数据手册要求；所述 ACE系统控制模块用于控制基于FPGA的自动检测测试系统的运行；所述MGT高速信号检测模块用于检测高速信号；所述JTAG边界扫描测试模块用于对多个待测芯片进行检测测试。2.根据权利要求1所述的一种基于FPG...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏新，李鹏飞，葛亚山，李云鹏，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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